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配向膜材料与面残影的关联性研究

刘晓那 , 宋勇志 , 徐长健 , 周波 , 马国靖 , 陈松飞 , 袁剑峰 , 林承武 , 邵喜斌

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142903.0317

利用mini-cell作为评价平台,从配向膜材料自身特性角度,对配向膜材料与面残影之间的关联性进行了综合研究.一方面,配向膜材料自身优异的稳定性有助于维持电压保持率(VHR);另一方面,配向膜材料自身的低电阻率特性有助于存储电荷的释放,利于实现较低的残余电流(RDC).而当配向膜材料的RDC和高低温间VHR变化值同时处于较低水平时,可以获得面残影水平较低的TFT-LCD模块.因此,利用mini-cell对配向膜材料进行评估,通过比较RDC以及△VHR数值,可以间接实现对TFT-LCD的残影结果评估,为实际生产中产品残影的改善提供了基础理论指导,具有重要的指导性作用.

关键词: 配向膜 , 电压保持率 , 残余电流 , 残影

负性液晶在FFS模式下的残像研究

童芬 , 郭小军

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153003.0393

图像残像是评价画面质量的最重要因素之一,大部分工程师研究了组合物的材料和液晶面板的制造工艺,以改善影像残留,但之前的研究主要是以正性液晶材料为基础进行探讨的,本文主要以负性液晶材料为基础研究了用边缘场驱动的面板残像.首先为了比较正性液晶与负性液晶,测量了离子密度及电压保持率(VHR),其次为了比较两种配向材料(PI)与液晶材料的搭配特性并选择合适的组合,量测了样品的直流残留(RDC)电压和Vcom电压随时间的变化.从量测结果可知,紫外(UV)光照前负性液晶离子密度是正性液晶的39倍,经过紫外光照,后负性液晶的离子密度为560 Pc/cm,且其紫外光照后电压保持率变化量为2.7%;使用负性液晶搭配 PI1的样品 A-1的直流残留电压和Vcom (等效为交流驱动电压的中心值)随时间变化量都是最大的,分别为0.5 V和250 mV,负性液晶搭配PI2材料的面板和正性液晶的面板的直流残留电压均小于0.2 V,其Vcom随时间变化量均在50 mV以内.负性液晶材料的离子浓度含量高,且其稳定性比正性液晶材料差,负性液晶材料比正性液晶材料更容易发生残像;对于使用负性液晶材料,边缘场驱动模式的面板,搭配 PI2配向膜材料能够保持低的直流残留电压及低的Vcom电压变化量,从而对改善残像现象有帮助.

关键词: 边缘场切换广视角技术 , 负性液晶 , 残像 , 配向膜

负型液晶在 ADS 广视角技术中的应用

王菲菲 , 邵喜斌

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20163108.0760

为满足液晶面板尤其是大尺寸产品对高透过率不断提升的需求,进行负型液晶在 ADS 广视角技术中的研究。首先,介绍 ADS 技术的发展进程及主要特点,然后模拟分析负型液晶参数变化对 ADS 显示特性的影响,最后,利用 mini cell 对负型液晶和 PI 材料的进行实验室评价。液晶参数中:Δn 影响透过率,|Δε|和 K 值影响响应时间和工作电压,γ1影响响应时间。负型液晶透过率比正型液晶提升约8%,但响应时间增加约50%,负型液晶与 PI 的匹配性及残像差于正型液晶,与 PI 材料的搭配对残像有显著影响。调整负型液晶参数可优化产品性能。负型液晶可大幅提高产品的透过率,但需要加快响应时间和提升残像水平。响应速度的提高除了需要降低液晶的黏度,还需在电极结构优化方面做更多努力,而残像水平的提升,除提高负型液晶材料本身的稳定性外,与其搭配的取向材料的研发也十分重要。

关键词: 广视角技术 , 高级超维场转换技术 , 负型液晶 , 残像

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